Bess의 화재 및 폭발 위험

BESS의 폭발 위험 : 열 런 어웨이

런 어웨이는 BESS 의 폭발로 이어질 수 있습니다 .

열 런 어웨이는 극도의 열을 생성하는 발열 반응을 일으켜 (경우에 따라 1000 ° C를 초과) 다른 독성 연기와 함께 수소와 같은 상당한 양의 가연성 가스를 방출합니다.
열 런 어웨이의 강도는 배터리의 화학 및 충전 상태 (SOC)에 따라 다릅니다. 열 이벤트 동안, 결함이있는 세포로부터의 열은 인접한 세포가 실패하여 모듈 전체에 퍼질 수있는 연쇄 반응을 유발하여 전체 BES 및 인근 장비를 파괴 할 수있다.

열 런 어웨이는 여러 가지 요인으로 트리거 될 수 있습니다.

배터리 CEL 내의 제조 결함, 충돌 또는 침투와 같은 기계적 남용, 과충전 또는 단락 세포와 같은 전기 학대, 과도한 온도와 관련된 열 남용.

열 런 어웨이와 관련된 위험의 심각성은 폭발 방지 패널 사용과 같은 폭발 및 화재의 위험을 완화하는 BESS 설계

BESS 에서 가연성 가스를 탐지하고 방출하는 것은 NFPA 855 에 요약 된 두 가지 주요 조치입니다 .

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